和记娱乐官网app

Fab EDA

• 和记娱乐官网app:SPICE Model

  • 和记娱乐官网app:Baseband Modeling / BSIMProPlus
  • 和记娱乐官网app:RF Modeling / MeQLab
  • 和记娱乐官网app:Model Extraction Automation / SDEP
  • 和记娱乐官网app:Model QA / ME-Pro

• PDK

  • 和记娱乐官网app:PCell Development / PCellLab
  • 和记娱乐官网app:PDK Verification / PQLab

• 和记娱乐官网app:Standard Cell

  • 和记娱乐官网app:Library Characterization / NanoCell
  • 和记娱乐官网app:Library Validation / LibWiz

• 和记娱乐官网app:Fabrication

  • 和记娱乐官网app:Lithography Modeling and Simulation / FabLitho
  • 和记娱乐官网app:Reticle Automated Design / FAR

和记娱乐官网app:AMS Design EDA

• 和记娱乐官网app:Design Environment

  • 和记娱乐官网app:Schematic Capture / NanoDesigner SE
  • 和记娱乐官网app:Layout Editor / NanoDesigner LS
  • Interactive Physical Verification / NanoDesigner iV
  • 和记娱乐官网app:Design Optimization / NanoDesigner Optimizer

• Circuit Simulation

  • 和记娱乐官网app:SPICE Simulator / NanoSpice
  • 和记娱乐官网app:SPICE Simulator / NanoSpice X
  • 和记娱乐官网app:SPICE Simulator / NanoSpice Giga
  • 和记娱乐官网app:FastSPICE Simulator / NanoSpice Pro
  • 和记娱乐官网app:FastSPICE Simulator / NanoSpice Pro X
  • 和记娱乐官网app:Mixed Signal / NanoSpice MS
  • 和记娱乐官网app:Waveform Analysis / NanoWave

• 和记娱乐官网app:Circuit Analysis

  • 和记娱乐官网app:Static and Dynamic Circuit Check / NanoSpice CCK
  • 和记娱乐官网app:Yield Analysis / NanoYield
  • 和记娱乐官网app:Signal Integrity / NanoSpice SI
  • 和记娱乐官网app:Critical Path Analysis / PathInspector
  • Power Device Design Verification / PTM
  • 和记娱乐官网app:ESD Verification / ESDi

和记娱乐官网app:Digital Design EDA

• 和记娱乐官网app:Circuit Simulation

  • 和记娱乐官网app:Digital Simulation / VeriSim

• 和记娱乐官网app:Standard Cell

  • 和记娱乐官网app:Library Characterization / NanoCell
  • 和记娱乐官网app:Library Validation / LibWiz

• 和记娱乐官网app:Design & Verification

  • 和记娱乐官网app:Timing Analysis / TRASTA
  • 和记娱乐官网app:Floor Planning / NavisPro
  • 和记娱乐官网app:Signal Integrity Analysis / NanoSpice SI
  • 和记娱乐官网app:Power Design Analysis / PTM
  • ESD Verification / ESDi
  • Chip-to-Package Connectivity Verification / PadInspector

和记娱乐官网app:Testing Systems

• 和记娱乐官网app:Parametric Testing

  • 和记娱乐官网app:Semiconductor Parametric Analyzer / FS-Pro
  • 和记娱乐官网app:Semiconductor Parametric Analyzer / FS800

• 和记娱乐官网app:Noise Measurement

  • 和记娱乐官网app:Low Frequency Noise / 9812DX
  • 和记娱乐官网app:Low Frequency Noise / 9812E
  • 和记娱乐官网app:Low Frequency Noise / 9813DXC
  • 和记娱乐官网app:AC Dynamic Noise / 9812AC

• 和记娱乐官网app:Integrated Testing

  • Electrical Parameter Testing Software / LabExpress

和记娱乐官网app:Design Enablement Services

• 和记娱乐官网app:Wafer Testing

  • Data Testing / Data Acquisition & Characterization

• SPICE Modeling

  • 和记娱乐官网app:SPICE Modeling / Model Extraction & QA

• 和记娱乐官网app:Testchip Design

  • 和记娱乐官网app:Testkey & Layout / Testkey Design & Layout

• 和记娱乐官网app:New Device

  • 和记娱乐官网app:New Device / New Device Solutions

• 和记娱乐官网app:PDK Development

  • 和记娱乐官网app:PDK / Development & Verification

• 和记娱乐官网app:IP Development

  • Standard Cell Library & IP Cores / Characterization & Development

DTCO

和记娱乐官网app:Design Enablement

和记娱乐官网app:IC Simulation & Verification

和记娱乐官网app:Full Custom Design

和记娱乐官网app:Standard Cell Library Design Acceleration

About Us

• 和记娱乐官网app:Global Sales

和记娱乐官网app:News Center

• Company News

• 和记娱乐官网app:Marketing Events

Join Us

• 和记娱乐官网app:Corporate Culture

• 和记娱乐官网app:Talent Cultivation

• 和记娱乐官网app:Job Opportunities